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  • 電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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    產品詳細頁
    顆粒圖像儀

    顆粒圖像儀

    • 產品型號:ZKFT-1600
    • 更新時間:2023-11-19
    • 產品介紹:顆粒圖像儀
      產品特點:
      *出色的外觀設計,符合人機工程學的結構設計
      *機身一體化的設計,使產品長期保持優異穩定性能
      *優質的3WLED照明,穩定和超常使用壽命
      *無限遠色差校正光學系統,普通光學校正系統,可滿足不同用戶的需求
    • 在線留言 010-57223836/57223838

    產品介紹


    顆粒圖像儀


    通過專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行處理與分析,從而得到每一個顆粒的粒度和粒形信息,再將每一個顆粒的粒度和粒形信息進行統計,從而得到粒度(D50)及粒度分布、平均長徑比及長徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結果。

           ZKFT-1600直觀、形象、準確特點,它是將微米級以上的顆粒放大幾十、數百乃至上千倍,將整個顆粒形狀顯示在人們的眼前,使人一目了然。它不僅能看到顆粒,還能通過“尺子"來量每一個顆粒的大小,并通過圖像處理技術得到所有顆粒的直徑,進而得到粒度分布、平均長徑比以及長徑比分布等。ZKFT-1600為粉體材料的科研、生產和應用領域增添了一種直觀、簡便、準確的粒度粒形測試手段。

           ZKFT-1600靜態圖像顆粒分析系統還具有很多*圖像處理功能,包括自動拍攝、自動分割、自動填充、批處理多幅圖像、準確性標定等。其中眾多的“自動"功能簡化了操作,提高了效率;批處理多幅圖像功能,*克服了傳統的靜態圖像顆粒分析系統僅能分析單幅圖像,導致顆粒數太少,代表性不足,結果不準確的問題。它可以拍攝很多幅圖像,對些圖像一幅一幅地處理,每一幅處理過的圖像上的顆粒都匯集到一起,提高了代表性

    物鏡轉換向內四孔或五孔顆粒圖像儀

    載物工作臺220X148mm低手位雙層X軸鋼絲傳動機械移動平臺,

    行程76X50mm,精度0.1mm,阻尼 式雙切片夾

    調焦機構同軸粗微調焦機構,微調格值0.002mm

    照明裝置3WLED燈亮度連續可調的柯勒照明系統











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